長光辰芯推出 GLR1202BSI-L CMOS 圖像傳感器 針對高速激光位移檢測應用

近日，長光辰芯正式發佈 GLR 系列全新 CMOS 圖像傳感器 GLR1202BSI-L，該產品主要針對高速點激光位移傳感器應用，重點覆蓋工業自動化、精密製造及新能源檢測等高精度非接觸式檢測場景。新產品採用背照式架構，並結合長條形大像素與高速讀出電路設計，進一步強化激光檢測中的靈敏度與高速響應能力。

據瞭解，GLR1202BSI-L 採用 12.5μm×1000μm 長條形像素設計，分辨率為 2000×1。相比傳統方案，其超長像素構造能夠提升激光光斑的捕捉範圍與線性識別能力，在工件對位、動態位移檢測及高精度校準等場景中，可進一步提高檢測一致性與對準容錯率。

GLR1202BSI-L 提供高靈敏度和高信噪比的性能選擇

在性能方面，該芯片支持高靈敏度模式與高信噪比模式自由切換。其中，高靈敏度模式下讀出噪聲為 215e-；高信噪比模式下，芯片滿阱達到 2Me-，最大信噪比為 63dB，動態範圍達到 69dB。與此同時，得益於背照式工藝設計，GLR1202BSI-L 在 440nm 波長下峯值量子效率達到 91%，進一步增強弱光環境下的檢測能力。

在高速讀取能力方面，GLR1202BSI-L 集成 12bit ADC，並通過 5 對 Sub-LVDS 接口進行數字輸出。在全分辨率狀態下，芯片行頻可達到 240kHz；開啟 1×2 Binning 功能後，行頻最高可提升至 350kHz。此外，該芯片還支持 1224 像素輸出模式，以適配不同尺寸的光學系統需求。

封裝方面，GLR1202BSI-L 採用 CLCC 陶瓷封裝，並搭配雙面抗反射鍍膜玻璃密封方案，芯片整體尺寸為 40mm×11mm。按照官方計劃，GLR1202BSI-L 工程樣片預計將於 6 月下旬開始陸續發貨，目前產品已正式開放訂購。