MIT 團隊用晶片廢熱 實現類比運算

利用電子裝置自身產生的熱能,微米級矽結構有望實現更節能的熱感測與訊號處理。電子裝置運作時產生的熱量通常被視為問題,但麻省理工學院(MIT)士兵奈米科技研究所的研究科學家 Giuseppe Romano 領導的團隊,開發出一種不依賴電力的資料處理方法。此方法屬於類比運算,將輸入資料編碼為基於裝置內既有廢熱的溫度集合。透過團隊開發的基於物理優化演算法設計的微小矽結構,熱流的傳遞與分佈形成運算基礎,而輸出則由另一端收集的功率表示。

研究團隊利用這些結構執行矩陣向量乘法,這是大型語言模型等機器學習模型處理資訊與預測的核心數學技術。在多數情況下,結果準確率超過 99%。

挑戰與應用潛力

要將此運算方法擴展至現代深度學習模型,研究人員仍需克服諸多障礙,例如將數百萬個此類結構拼合的挑戰。隨著矩陣複雜度增加,準確率會下降,尤其在輸入與輸出端之間距離較大時。不過,此技術可立即應用於偵測電子產品中的問題熱源,並測量溫度變化,而無需額外耗能。這也能省去晶片上多個溫度感測器所佔空間。「電子裝置執行運算時,熱量多為廢棄產物,」物理系本科生兼論文主要作者 Caio Silva 表示。

「人們通常盡量排除熱量,但我們反其道而行,將熱量本身視為資訊形式。」

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Henderson
Henderson 是 TechRitual Hong Kong 科技編輯,專注報導智能手機、消費電子產品、SIM 卡及流動通訊市場。自加入 TechRitual 以來,累計撰寫數千篇科技報導及產品評測,內容同步發佈至 SINA 及 Yahoo Tech 等主要平台。部分文章由 AI 工具輔助撰寫,經編輯團隊審閱及事實查核後發佈。