根據中國的最新傳聞，Apple 正在測試隱藏式 Face ID 感應器，將應用於 iPhone 18 Pro 和 iPhone 18 Pro Max。這兩款機型預計將於 2026 年 9 月發佈，與其他兩款 iPhone 18 型號的主要區別在於這項隱藏式 3D 臉部掃描技術，這將使得這兩款機型的前面板只需一個打孔來放置自拍相機，從而去除傳統的缺口設計。
雖然 Apple 測試這項技術並不代表其對測試結果感到滿意，但這仍然是一個令人鼓舞的消息。將 Face ID 掃描技術置於顯示屏下方將使這些 iPhone 的前面看起來更加流暢，與其 Android 競爭對手多年的設計相似。然而，這些 Android 手機通常並不具備 3D 臉部掃描功能，而僅依賴攝像頭解鎖，這樣的安全性較低。
如果這項傳聞成真，缺口將會消失。隱藏式 Face ID 將使得用戶能夠享受到無缺口的外觀，同時保留 Apple 一貫的安全性。此外，首款摺疊 iPhone 也正在測試隱藏式 Face ID。至於 iPhone 18 和 iPhone 18 Air，目前仍將依賴傳統的缺口設計。
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